Технологія для визначення атомної будови поверхні різних матеріалів, розроблена професорами фізичного факультету Техаського університету, допомагає розглянути структуру верхніх шарів, не торкаючись властивості нижніх.
У журналі Physical Review Letters була опублікована стаття з висновками дослідження фізиків, які створили нову методику виборчого вивчення матеріалів. В основу розробки було закладено фізичний процес, відомий як опосередковане прилипання позитронів. Він характеризується здатністю позитронів зістиковуватися з верхніми шарами матеріалу, яка викликає електронну емісію, тобто випромінювання електронів з різних тіл.
Автор дослідження Алекс Фейрчайлд, науковий співробітник лабораторії позитронів, вважає, що вже-опосередковане прилипання позитронів є унікальним явищем, так як воно дозволяє виміряти поверхневі атомні шари.
Це відрізняється від типових методів, таких як фотоемісійна спектроскопія, коли фотон проникає через кілька шарів в об’єм матеріалу і, отже, містить об’єднану інформацію про поверхневі та підповерхневі шари. Наші результати показали, як віртуальні фотони, що випускаються після прилипання позитронів, взаємодіють переважно з електронами, які простягаються далі у вакуум, ніж з електронами, які були більш локалізовані в атомному положенні, — зазначив співавтор дослідження Варгезе Чіраят.
